Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии / Дифракция и рассеяние ионизирующих излучений / А. А. Ломов, А. Г. Сутырин, Д. Ю. Прохоров, Г. Б. Галиев, Ю. В. Хабаров, М. А. Чуев, Р. М. Имамов // Кристаллография . – Основан в 1956 году . – 2005 . – Т. 50, N 5 . – с. 801-812 .