Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Gudovskikh, A. S. - Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy / Полупроводниковые структур...
Gudovskikh, A. S. - Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy / Полупроводниковые структур...
Статья
Автор: Gudovskikh, A. S.
Физика и техника полупроводников: Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy / Полупроводниковые структур...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Gudovskikh, A. S.
Физика и техника полупроводников: Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy / Полупроводниковые структур...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Gudovskikh, A. S.
Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy / Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность / A. S. Gudovskikh, J. P. Kleider, E. I. Terukov // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2005 . – Т. 39, N 8 . – с. 940-944 .
Gudovskikh, A. S.
Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy / Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность / A. S. Gudovskikh, J. P. Kleider, E. I. Terukov // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2005 . – Т. 39, N 8 . – с. 940-944 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 39, N 8
Наука, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 39, N 8
Наука, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный