Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сапаев, Б. - Исследование некоторых свойств структур Si-Si1-xGex (0<=x,=1), выращенных из ограниченного оловян...
Сапаев, Б. - Исследование некоторых свойств структур Si-Si1-xGex (0<=x,=1), выращенных из ограниченного оловян...
Статья
Автор: Сапаев, Б.
Физика и техника полупроводников: Исследование некоторых свойств структур Si-Si1-xGex (0<=x,=1), выращенных из ограниченного оловян...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Сапаев, Б.
Физика и техника полупроводников: Исследование некоторых свойств структур Si-Si1-xGex (0<=x,=1), выращенных из ограниченного оловян...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Сапаев, Б.
Исследование некоторых свойств структур Si-Si1-xGex (0<=x,=1), выращенных из ограниченного оловянного раствора-расплава методом жидкофазной эпитаксии / Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность / Б. Сапаев, А. С. Саидов // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2005 . – Т. 39, N 10 . – с. 1183-1188 .
Сапаев, Б.
Исследование некоторых свойств структур Si-Si1-xGex (0<=x,=1), выращенных из ограниченного оловянного раствора-расплава методом жидкофазной эпитаксии / Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность / Б. Сапаев, А. С. Саидов // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2005 . – Т. 39, N 10 . – с. 1183-1188 .