Электронный каталог -Бублик, В. Т. - Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия

Бублик, В. Т. - Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия

Доступно
97 из 97

Книга
Автор: Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций
Издательство: Учеба, 2006 г.
ISBN отсутствует

полный текст

Заказать

На полку

Книга
N408 VIII-5 Б-90

Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский . – М. : Учеба, 2006 . – 93 с. : ил. + Библиогр.: с. 92. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=386139 . - (МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников) . – Пособие МИСиС .

621.315.5:539.26(075.8)

Общий = Электротехника : электроника : полупроводниковая электроника
Общий = Материаловедение : исследования структуры материалов : микроскопия
Грифы = 2: УМО и НМС
Дисциплины = Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть : Методы исследования материалов и структур электроники

186147м 01:Книгохранение
186148м 01:Книгохранение
186149м 01:Книгохранение
186150м 01:Книгохранение
186151м 01:Книгохранение
02:ООУЛ - 92 экз.