Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Красников, Г. Я. - Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС

Красников, Г. Я. - Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС

Доступно
 1 из 1
Книга
Автор: Красников, Г. Я.
Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС
Издательство: Техносфера, 2003 г.
ISBN 5-948360-08-3

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
VIII-5 К-782

Красников, Г. Я.
Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев . – М. : Техносфера, 2003 . – 377с. : ил. + Библиогр.: с. 376-377 . - ISBN 5-948360-08-3 .

621.315.592.2 : 546.28

Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Химия : неорганическая химия : периодическая система элементов : кремний

662089 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)

7. Влияние материала и технологии осаждения полевого электрода на электрофизические свойства сист...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

6. Стабилизация электрофизических свойств системы Si-SiO2
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

5. Геттерирование в производстве кремниевых чипов
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

4. Электронно-ионные процессы в системе Si-SiO2
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

3. Физико-химический анализ причин образования зарядов и накопления примесей в системе Si-SiO2
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

2. Начальный этап окисления кремния и дефекты в системе Si-SiO2
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

1. Влияние термических операций на свойства кремниевых пластин
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167