Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Gornev, E. S. - Linear Measurement Metrology in Micro- and Nanotechnology

Gornev, E. S. - Linear Measurement Metrology in Micro- and Nanotechnology

Книга (аналит. описание)
Автор: Gornev, E. S.
Perspective technologies, materials and equipments of solid-state electronic components: Linear Measurement Metrology in Micro- and Nanotechnology
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Gornev, E. S.
Linear Measurement Metrology in Micro- and Nanotechnology / E. S. Gornev, V. V. Kalendin, P. A. Todua, Yu. A. Novikov, A. V. Rakov // Perspective technologies, materials and equipments of solid-state electronic components : proc. of II russian-japanese seminar (6 April, 2004. Moscow) / ed. L. V. Kozhitov . – M. : MISA Publ., 2004 . – P. 247-256 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 1 из 1
Книга

Perspective technologies, materials and equipments of solid-state electronic components: proc. of II russian-japanese seminar (6 April, 2004. Moscow)
MISA Publ., 2004 г.
ISBN 5-87623-132-0
Библиотека МИСИС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167