Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Филатов, П. А. - Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кр...
Филатов, П. А. - Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кр...
Статья
Автор: Филатов, П. А.
Кристаллография: Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кр...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Филатов, П. А.
Кристаллография: Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кр...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Филатов, П. А.
Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кристаллизации / П. А. Филатов, В. Т. Бублик, А. В. Марков, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова // Кристаллография . – 2007 . – Т. 52, N 2 . – С. 307-312 .
Филатов, П. А.
Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кристаллизации / П. А. Филатов, В. Т. Бублик, А. В. Марков, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова // Кристаллография . – 2007 . – Т. 52, N 2 . – С. 307-312 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1