Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Физика и техника полупроводников

Физика и техника полупроводников

Доступно
 1 из 1
Выпуск
Автор:
Физика и техника полупроводников. Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Периодическое издание

Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – М. : Наука . – На рус. яз. - ISSN 0015-3222 ДЛЯ ДОСТУПА из ДОМА к ПОЛНОМУ ТЕКСТУ необходимо подключиться через OpenVPN МИСИС (настройки см. в личном кабинете МИСИС) .
Выпуск

Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 .



01:Книгохранение - 1 экз.



Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Периодическое издание

Физика и техника полупроводников
Наука, б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Статья
Shmidt, N. M.
EBIC characterization of light emitting structures based on GaN
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Afrosimov, V. V.
Diagnostics of films and layers of nanometer thickness using middle energy ion scattering technique
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Sokolov, R. V.
Evolution of luminescence properties of natural oxide on silicon and porous silicon
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Ivanov, A. S.
Cathodoluminescence of laser AIIBVI heterostructures
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Khrustalev, V. S.
Cathodoluminescence characteristics of pseudomorphic modulation-doped quantum well AlGaAs/InGaAs/...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Alexandrov, S. E.
AFM investigation of thin post-baked photoresistive films for microsystem technology application
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Zamoryanskaya, M. V.
Cathodoluminescence study of silicon oxide/silicon interface
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Yu, X.
Combined CL/EBIC/DLTS investigation of a regular dislocation network formed by Si wafer direct bo...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Fitting, H.-J.
Multimodal luminescence spectra of ion-implanted silica
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Kosolobov, S. S.
Initial stages of gold adsorption on silicon stepped surface at elevated temperatures
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Burylova, I. V.
Mathematical simulation of distribution of minority charge carriers, generated in multy-layer sem...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Breitenstein, O.
Material-induced shunts in multicrystalline silicon solar cells
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Arguirov, T.
Photoluminescence study on defects in multicrystalline silicon
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Chaika, A. N.
STM and LEED studies of the atomically ordered terraced Si(557) surfaces
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Burakov, B. E.
The use of cathodoluminescence for development of durabe self-glowing crystals based jn solid sol...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Cavalcoli, A.
Micro- and nano-structures in silicon studied by DLTS and scanning probe methods
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Kaminski, P.
Photoinduced transient spectroscopy of defect centers in GaN and SiC
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Yakimov, E. B.
EBIC measurements of small diffusion length in semiconductor structures
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Krapukhin, V. V.
Simulation and measurements of EBIC images of photoconductive elements based on HgCdTe
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Yakimov, E. B.
EBIC characterization of strained Si/SiGe heterostructures
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Sellin, P. J.
IBIC characterization of charge transport in CdTe:Cl
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Jia, G.
Cathodoluminescence investigation of silicon nanowires fabricated by thermal evaporation of SiO
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Kolesnikova, E.
Cathodoluminescence and TEM studies of HVPE GaN layers grown on porous SiC substrates
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Salh, R.
Si and Ge nanocluster formation in Silica matrix
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Kalinina, E. V.
Structural peculiarities of 4H-SiC Irradiated by Bi ions
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Wan, D.
In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167