Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Yakimov, E. B. - EBIC characterization of strained Si/SiGe heterostructures
Yakimov, E. B. - EBIC characterization of strained Si/SiGe heterostructures
Статья
Автор: Yakimov, E. B.
Физика и техника полупроводников: EBIC characterization of strained Si/SiGe heterostructures
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Yakimov, E. B.
Физика и техника полупроводников: EBIC characterization of strained Si/SiGe heterostructures
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Yakimov, E. B.
EBIC characterization of strained Si/SiGe heterostructures / E. B. Yakimov, R. H. Zhang, G. A. Rozgonyi, M. Seacrist // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 . – P. 417-421 .
Yakimov, E. B.
EBIC characterization of strained Si/SiGe heterostructures / E. B. Yakimov, R. H. Zhang, G. A. Rozgonyi, M. Seacrist // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 . – P. 417-421 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный