Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Yakimov, E. B. - EBIC measurements of small diffusion length in semiconductor structures
Yakimov, E. B. - EBIC measurements of small diffusion length in semiconductor structures
Статья
Автор: Yakimov, E. B.
Физика и техника полупроводников: EBIC measurements of small diffusion length in semiconductor structures
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Yakimov, E. B.
Физика и техника полупроводников: EBIC measurements of small diffusion length in semiconductor structures
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Yakimov, E. B.
EBIC measurements of small diffusion length in semiconductor structures / E. B. Yakimov, S. S. Borisov, S. I. Zaitsev // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 . – P. 426-428 .
Yakimov, E. B.
EBIC measurements of small diffusion length in semiconductor structures / E. B. Yakimov, S. S. Borisov, S. I. Zaitsev // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 . – P. 426-428 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный