Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Alexandrov, S. E. - AFM investigation of thin post-baked photoresistive films for microsystem technology application
Alexandrov, S. E. - AFM investigation of thin post-baked photoresistive films for microsystem technology application
Статья
Автор: Alexandrov, S. E.
Физика и техника полупроводников: AFM investigation of thin post-baked photoresistive films for microsystem technology application
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Alexandrov, S. E.
Физика и техника полупроводников: AFM investigation of thin post-baked photoresistive films for microsystem technology application
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Alexandrov, S. E.
AFM investigation of thin post-baked photoresistive films for microsystem technology application / S. E. Alexandrov, A. B. Speshilova, Y. V. Soloviev, O. I. Eremeychik // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 . – P. 481-483 .
Alexandrov, S. E.
AFM investigation of thin post-baked photoresistive films for microsystem technology application / S. E. Alexandrov, A. B. Speshilova, Y. V. Soloviev, O. I. Eremeychik // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 . – P. 481-483 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный