Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Зотов, Н. М. - Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые...
Зотов, Н. М. - Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Диссертация
Автор: Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые... : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
Издательство: [МИСиС], 1997 г.
ISBN отсутствует
Автор: Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые... : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
Издательство: [МИСиС], 1997 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Диссертация
З-882д
Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков" / Н. М. Зотов ; науч. рук. В. Т. Бублик . – М. : [МИСиС], 1997 . – 131 с. : ил. + Библиогр.: с. 124-131. - (МИСиС).
621.315.592.2:546.28
Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Химия : неорганическая химия : периодическая система элементов : кремний
643905 20:Фонд дис.др.орг.
З-882д
Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков" / Н. М. Зотов ; науч. рук. В. Т. Бублик . – М. : [МИСиС], 1997 . – 131 с. : ил. + Библиогр.: с. 124-131. - (МИСиС).
621.315.592.2:546.28
Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Химия : неорганическая химия : периодическая система элементов : кремний
643905 20:Фонд дис.др.орг.