Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Криштал, М. М. - 7. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Криштал, М. М. - 7. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/7.gif)
Книга (аналит. описание)
Автор: Криштал, М. М.
Перспективные материалы. Т. II: Конструкционные материалы и методы управления их качеством: 7. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Криштал, М. М.
Перспективные материалы. Т. II: Конструкционные материалы и методы управления их качеством: 7. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Криштал, М. М.
7. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ / М. М. Криштал, И. С. Ясников // Перспективные материалы. Т. II: Конструкционные материалы и методы управления их качеством : учеб. пособие для студ. вузов, обуч. по напр. подг. дипломир. специалистов - 'физическое материаловедение' и 'металлургия' / ред. Д. Л. Мерсон . – Тольятти : Тольятт. гос. ун-т ; М. : Изд-во МИСиС . – С. 309-360 .
Криштал, М. М.
7. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ / М. М. Криштал, И. С. Ясников // Перспективные материалы. Т. II: Конструкционные материалы и методы управления их качеством : учеб. пособие для студ. вузов, обуч. по напр. подг. дипломир. специалистов - 'физическое материаловедение' и 'металлургия' / ред. Д. Л. Мерсон . – Тольятти : Тольятт. гос. ун-т ; М. : Изд-во МИСиС . – С. 309-360 .