Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сагайдачный, А. А. - Определение оптических свойств и толщины нанослоев по угловым зависимостям коэффициента отражения
Сагайдачный, А. А. - Определение оптических свойств и толщины нанослоев по угловым зависимостям коэффициента отражения
![](/vmsua5379ghkip/app/webroot/img/doctypes/7.gif)
Книга (аналит. описание)
Автор: Сагайдачный, А. А.
Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. Т. 1: Определение оптических свойств и толщины нанослоев по угловым зависимостям коэффициента отражения
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Сагайдачный, А. А.
Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. Т. 1: Определение оптических свойств и толщины нанослоев по угловым зависимостям коэффициента отражения
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Сагайдачный, А. А.
Определение оптических свойств и толщины нанослоев по угловым зависимостям коэффициента отражения / А. А. Сагайдачный, Д. И. Биленко // Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. Т. 1 : материалы V Российско-Японского семинара (18-19 июня 2007 г.) / ред. Л. В. Кожитов . – М. : Изд-во МИСиС, 2007 . – С. 457-465 .
Сагайдачный, А. А.
Определение оптических свойств и толщины нанослоев по угловым зависимостям коэффициента отражения / А. А. Сагайдачный, Д. И. Биленко // Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. Т. 1 : материалы V Российско-Японского семинара (18-19 июня 2007 г.) / ред. Л. В. Кожитов . – М. : Изд-во МИСиС, 2007 . – С. 457-465 .