Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Гаджиев, Э. Ш. - Электронографическое исследование параметров ближнего порядка в аморфных пленках Yb1-xSmxAs2S4
Гаджиев, Э. Ш. - Электронографическое исследование параметров ближнего порядка в аморфных пленках Yb1-xSmxAs2S4
Статья
Автор: Гаджиев, Э. Ш.
Физика и техника полупроводников: Электронографическое исследование параметров ближнего порядка в аморфных пленках Yb1-xSmxAs2S4
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Гаджиев, Э. Ш.
Физика и техника полупроводников: Электронографическое исследование параметров ближнего порядка в аморфных пленках Yb1-xSmxAs2S4
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Гаджиев, Э. Ш.
Электронографическое исследование параметров ближнего порядка в аморфных пленках Yb1-xSmxAs2S4 / Э. Ш. Гаджиев, А. И. Мададзаде // Физика и техника полупроводников . – 2008 . – Т. 42, N 5 . – С. 608-610 .
Гаджиев, Э. Ш.
Электронографическое исследование параметров ближнего порядка в аморфных пленках Yb1-xSmxAs2S4 / Э. Ш. Гаджиев, А. И. Мададзаде // Физика и техника полупроводников . – 2008 . – Т. 42, N 5 . – С. 608-610 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 42, N 5
2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 42, N 5
2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный