Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Филатов, П. А. - Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...
Филатов, П. А. - Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Диссертация
Автор: Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр... : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Издательство: [МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Автор: Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр... : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Издательство: [МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Диссертация
Ф-517д
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеноструктурными методами : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников" / П. А. Филатов ; науч. рук. В. Т. Бублик . – М. : [МИСиС], 2008 . – 143с. : ил. + Библиогр.: с. 131-143.
537.311.322:548.4:548.73(043.3)
Общий = Физика : полупроводники
Общий = Кристаллография : кристаллы : дефекты
317595 19:Фонд дис.МИСиС
Ф-517д
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеноструктурными методами : дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников" / П. А. Филатов ; науч. рук. В. Т. Бублик . – М. : [МИСиС], 2008 . – 143с. : ил. + Библиогр.: с. 131-143.
537.311.322:548.4:548.73(043.3)
Общий = Физика : полупроводники
Общий = Кристаллография : кристаллы : дефекты
317595 19:Фонд дис.МИСиС