Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Векилова, Г. В. - Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов

Векилова, Г. В. - Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов

Доступно
 34 из 36
Книга
Автор: Векилова, Г. В.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учеб. пособие для студ. вузов, обуч. по напр. 'Металлургия'
Издательство: [МИСиС], 2009 г.
ISBN отсутствует

полный текст

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
N1296 IV-1 В-269

Векилова, Г. В.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учеб. пособие для студ. вузов, обуч. по напр. 'Металлургия' / Г. В. Векилова, А. Н. Иванов, Ю. Д. Ягодкин . – М. : [МИСиС], 2009 . – 144с. : ил. + Библиогр.: с. 144. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=485833 . - Пособие МИСиС .

548.73+539.25/.27](075.8)

Общий = Кристаллография : рентгенодифракционный анализ
Общий = Физика : твердое тело : структура : рентгеноструктурный анализ
Грифы = 2: УМО и НМС
Дисциплины = Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть : Наночастицы и наноматериалы

394371 01:Книгохранение
394372 01:Книгохранение
02:ООУЛ - 34 экз.




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167