Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бакалейников, Л. А. - Послойный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых структур методом вариации энергии эл...
Бакалейников, Л. А. - Послойный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых структур методом вариации энергии эл...
Статья
Автор: Бакалейников, Л. А.
Физика и техника полупроводников: Послойный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых структур методом вариации энергии эл...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Бакалейников, Л. А.
Физика и техника полупроводников: Послойный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых структур методом вариации энергии эл...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Бакалейников, Л. А.
Послойный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых структур методом вариации энергии электронного зонда / Л. А. Бакалейников, Я. В. Домрачева, М. В. Заморянская, Е. В. Колесникова, Т. Б. Попова, Е. Ю. Флегонтова // Физика и техника полупроводников . – 2009 . – Т. 43, N 4 . – С. 568-573 .
Бакалейников, Л. А.
Послойный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых структур методом вариации энергии электронного зонда / Л. А. Бакалейников, Я. В. Домрачева, М. В. Заморянская, Е. В. Колесникова, Т. Б. Попова, Е. Ю. Флегонтова // Физика и техника полупроводников . – 2009 . – Т. 43, N 4 . – С. 568-573 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 43, N 4
2009 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 43, N 4
2009 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный