Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Ломов, А. А. - Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния

Ломов, А. А. - Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния

Статья
Автор: Ломов, А. А.
Кристаллография: Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Статья

Ломов, А. А.
Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния / А. А. Ломов, В. А. Бушуев, А. А. Карцев, В. А. Караванский, А. Л. Васильев // Кристаллография . – 2009 . – T. 54, N 3 . – С. 410-417 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 1 из 1
Выпуск

Кристаллография T. 54, N 3
2009 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167