Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Брандон, Д. - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Брандон, Д. - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Доступно
 2 из 2
Книга
Автор: Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для студ., обуч. по напр. подг. 'Прикладные математика и физика': пер. с англ.
Серия: Мир материалов и технологий
Издательство: Техносфера, 2006 г.
ISBN 5-94836-018-0

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
VIII-5 Б-874

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для студ., обуч. по напр. подг. 'Прикладные математика и физика': пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан . – М. : Техносфера, 2006 . – 377с. : рис. + Библиогр. в конце глав . – (Мир материалов и технологий) . - ISBN 5-94836-018-0 : 145р.

621.315.592:548.73(075.8)

Общий = Материаловедение : исследования структуры материалов
Общий = Материаловедение : полупроводники

437580 01:Книгохранение
437581 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)

7. Количественный анализ микроструктуры
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

6. Химический анализ поверхности
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

5. Микроанализ в электронной микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

4. Электронная микроскопия
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

3. Оптическая микроскопия
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

2. Дифракционный анализ кристаллической структуры
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

1. Микроструктура
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167