Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: 3. Микроскопия отраженного света
3. Микроскопия отраженного света
Книга (аналит. описание)
Автор:
Микроскопические методы исследования материалов: 3. Микроскопия отраженного света
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Микроскопические методы исследования материалов: 3. Микроскопия отраженного света
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
3. Микроскопия отраженного света // Микроскопические методы исследования материалов : пер. с англ. / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; РАН , Ин-т синтет. полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова . – М. : Техносфера, 2007 . – С. 155-210 . – (Мир материалов и технологий) .
3. Микроскопия отраженного света // Микроскопические методы исследования материалов : пер. с англ. / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; РАН , Ин-т синтет. полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова . – М. : Техносфера, 2007 . – С. 155-210 . – (Мир материалов и технологий) .
Привязано к:
Доступно
2 из 3
Книга
Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов: пер. с англ.
ISBN 978-5-94836-121-5
Библиотека МИСиС : Научный
Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов: пер. с англ.
Серия: Мир материалов и технологий
Техносфера, 2007 г.ISBN 978-5-94836-121-5
Библиотека МИСиС : Научный