Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга (аналит. описание)

Афанасьев, А. М.
21. Структурная характеризация двойных квантовых ям AlGaAs/GaAs/AlGaAs тонкими разделяющими AlAs-слоями с помощью рентгеновской дифракции / А. М. Афанасьев, Г. Б. Галиев, Р. М. Имамов, Е. А. Климов, А. А. Ломов, В. Г. Мокеров, В. В. Сарайкин, М. А. Чуев // Наногетероструктуры в сверхвысокочастотной полупроводниковой электронике : сб. ст. / Д. Ю. Адамов, Ю. Ф. Адамов, Д. В. Амелин, др.; Ин-т СВЧ плупроводниковой электроники РАН . – М. : Техносфера, 2010 . – С. 291-304 .