Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сошников, А. И. - Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
Сошников, А. И. - Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
Доступно
1 из 1
1 из 1
Автореферат
Автор: Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Издательство: [МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Автор: Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Издательство: [МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Автореферат
С-697а
Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников" / А. И. Сошников ; науч. рук. В. Д. Бланк . – М. : [МИСиС], 2011 . – 30с. : рис. + Библиогр.: с. 28-30 . – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=521698 .
537.311.322.082.7-022.532(043.3)
461463 19:Фонд дис.МИСИС
С-697а
Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников" / А. И. Сошников ; науч. рук. В. Д. Бланк . – М. : [МИСиС], 2011 . – 30с. : рис. + Библиогр.: с. 28-30 . – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=521698 .
537.311.322.082.7-022.532(043.3)
461463 19:Фонд дис.МИСИС