Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Гуревич, М. А. - Применение метода задней рентгеносъемки для прецизионного определения периодов решетки кристаллич...
Гуревич, М. А. - Применение метода задней рентгеносъемки для прецизионного определения периодов решетки кристаллич...
Книга (аналит. описание)
Автор: Гуревич, М. А.
Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов: Применение метода задней рентгеносъемки для прецизионного определения периодов решетки кристаллич...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Гуревич, М. А.
Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов: Применение метода задней рентгеносъемки для прецизионного определения периодов решетки кристаллич...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Гуревич, М. А.
Применение метода задней рентгеносъемки для прецизионного определения периодов решетки кристаллических веществ без использования образца-эталона / М. А. Гуревич // Научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности ГИРЕДМЕТ. Научные труды . – М. : Металлургиздат, 1959. - 33/200 : Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов / Гиредмет, Б. А. Сахаров . – М. : Металлургия, 1971 . – С. 164-167 .
Гуревич, М. А.
Применение метода задней рентгеносъемки для прецизионного определения периодов решетки кристаллических веществ без использования образца-эталона / М. А. Гуревич // Научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности ГИРЕДМЕТ. Научные труды . – М. : Металлургиздат, 1959. - 33/200 : Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов / Гиредмет, Б. А. Сахаров . – М. : Металлургия, 1971 . – С. 164-167 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Книга
33/200. : Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов
Металлургия, 1971 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
33/200. : Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов
Металлургия, 1971 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный