Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Брянцева, Т. А. - Исследование состава приповерхностных слоев полупроводников с помощью фотометрии
Брянцева, Т. А. - Исследование состава приповерхностных слоев полупроводников с помощью фотометрии
Статья
Автор: Брянцева, Т. А.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Исследование состава приповерхностных слоев полупроводников с помощью фотометрии
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Брянцева, Т. А.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Исследование состава приповерхностных слоев полупроводников с помощью фотометрии
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Брянцева, Т. А.
Исследование состава приповерхностных слоев полупроводников с помощью фотометрии / Т. А. Брянцева, М. А. Бобылев, З. М. Лебедева, Д. В. Любченко // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2012 . – N 4 . – С. 41-44 .
Брянцева, Т. А.
Исследование состава приповерхностных слоев полупроводников с помощью фотометрии / Т. А. Брянцева, М. А. Бобылев, З. М. Лебедева, Д. В. Любченко // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2012 . – N 4 . – С. 41-44 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 4
2012 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 4
2012 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный