Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга
II-1 А-593

Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок : пер. с англ. / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; науч. ред. А. Н. Образцов ; Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Научно-образоват. центр по нанотехнологиям . – М. : Науч. мир, 2012 . – 390с. : рис. + Библиогр. в конце гл. – (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники) . - ISBN 978-5-91522-225-9 : 792.00 .

539.184:539.216.2-022.532

Общий = Физика : твердое тело : тонкие пленки
Общий = Материаловедение : наноматериалы

483373 01:Книгохранение
483374 01:Книгохранение
483375 01:Книгохранение