Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Алпатов, А. В. - Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок методом двумерного флуктуационного анализа
Алпатов, А. В. - Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок методом двумерного флуктуационного анализа
Статья
Автор: Алпатов, А. В.
Физика и техника полупроводников: Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок методом двумерного флуктуационного анализа
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Алпатов, А. В.
Физика и техника полупроводников: Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок методом двумерного флуктуационного анализа
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Алпатов, А. В.
Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок методом двумерного флуктуационного анализа / А. В. Алпатов, С. П. Вихров, Н. В. Гришанкина // Физика и техника полупроводников . – 2013 . – Т. 47, N 3 . – С. 340-347 .
Алпатов, А. В.
Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок методом двумерного флуктуационного анализа / А. В. Алпатов, С. П. Вихров, Н. В. Гришанкина // Физика и техника полупроводников . – 2013 . – Т. 47, N 3 . – С. 340-347 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 47, N 3
2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 47, N 3
2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный