Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: 10. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS)
10. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS)
Книга (аналит. описание)
Автор:
Фундаментальные основы анализа нанопленок: 10. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS)
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Фундаментальные основы анализа нанопленок: 10. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS)
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
10. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS) // Фундаментальные основы анализа нанопленок : пер. с англ. / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; науч. ред. А. Н. Образцов ; Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Научно-образоват. центр по нанотехнологиям . – М. : Науч. мир, 2012 . – С. 249-266 . – (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники) .
10. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS) // Фундаментальные основы анализа нанопленок : пер. с англ. / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; науч. ред. А. Н. Образцов ; Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Научно-образоват. центр по нанотехнологиям . – М. : Науч. мир, 2012 . – С. 249-266 . – (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники) .
Привязано к:
Доступно
3 из 3
Книга
Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок: пер. с англ.
Науч. мир, 2012 г.
ISBN 978-5-91522-225-9
Библиотека МИСиС : Научный
Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок: пер. с англ.
Науч. мир, 2012 г.
ISBN 978-5-91522-225-9
Библиотека МИСиС : Научный