Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Орлов, П. Б. - Исследование неоднородности тонких слоев полупроводниковых материалов методом реакционной ионно-и...
Орлов, П. Б. - Исследование неоднородности тонких слоев полупроводниковых материалов методом реакционной ионно-и...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Диссертация
Автор: Орлов, П. Б.
Исследование неоднородности тонких слоев полупроводниковых материалов методом реакционной ионно-и... : дис... к.т.н.
Издательство: [Б.и.], 1976 г.
ISBN отсутствует
Автор: Орлов, П. Б.
Исследование неоднородности тонких слоев полупроводниковых материалов методом реакционной ионно-и... : дис... к.т.н.
Издательство: [Б.и.], 1976 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Диссертация
О-664д
Орлов, П. Б.
Исследование неоднородности тонких слоев полупроводниковых материалов методом реакционной ионно-ионной эмиссии : дис... к.т.н. / П. Б. Орлов, В. И. Фистуль, Ф. А. Гимельфарб . – М. : [Б.и.], 1976 . – 149 с. : ил.,фото. - (Науч.-исслед. и проектн. ин-т редкометаллической пром-сти 'ГИРЕДМЕТ').
621.315.592
Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Физика : твердое тело : тонкие пленки
Общий = Материаловедение : дефекты материалов
491250 20:Фонд дис.др.орг.
О-664д
Орлов, П. Б.
Исследование неоднородности тонких слоев полупроводниковых материалов методом реакционной ионно-ионной эмиссии : дис... к.т.н. / П. Б. Орлов, В. И. Фистуль, Ф. А. Гимельфарб . – М. : [Б.и.], 1976 . – 149 с. : ил.,фото. - (Науч.-исслед. и проектн. ин-т редкометаллической пром-сти 'ГИРЕДМЕТ').
621.315.592
Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Физика : твердое тело : тонкие пленки
Общий = Материаловедение : дефекты материалов
491250 20:Фонд дис.др.орг.