Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Сиротинкин, В. П. - Определение структурных характеристик нанопорошков вольфрама по профилю одного рентгеновского диф...

Сиротинкин, В. П. - Определение структурных характеристик нанопорошков вольфрама по профилю одного рентгеновского диф...

Статья
Автор: Сиротинкин, В. П.
Определение структурных характеристик нанопорошков вольфрама по профилю одного рентгеновского диф...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Статья

Сиротинкин, В. П.
Определение структурных характеристик нанопорошков вольфрама по профилю одного рентгеновского дифракционного пика по программе WinFit / В. П. Сиротинкин, А. Б. Михайлова, В. Ф. Шамрай, А. В. Самохин, М. А. Синайский, С. А. Тихомиров, О. Д. Тарасов // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2014 . – N 4 . – С. 33-37 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 1 из 1
Выпуск

Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 4
2014 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167