Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Применение метода диффузного рассеяния рентгеновских лучей для изучения микродефектов в монокрист...
Бублик, В. Т. - Применение метода диффузного рассеяния рентгеновских лучей для изучения микродефектов в монокрист...
Статья
Автор: Бублик, В. Т.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Применение метода диффузного рассеяния рентгеновских лучей для изучения микродефектов в монокрист...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Бублик, В. Т.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Применение метода диффузного рассеяния рентгеновских лучей для изучения микродефектов в монокрист...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Бублик, В. Т.
Применение метода диффузного рассеяния рентгеновских лучей для изучения микродефектов в монокристаллах GaAs, легированных Si / Атомные структуры и методы структурных исследований / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, Е. В. Жевнеров // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 1998 . – N 3 . – 72-75 .
Бублик, В. Т.
Применение метода диффузного рассеяния рентгеновских лучей для изучения микродефектов в монокристаллах GaAs, легированных Si / Атомные структуры и методы структурных исследований / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, Е. В. Жевнеров // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 1998 . – N 3 . – 72-75 .