Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга (аналит. описание)

Яковлева, В. Г.
Методы химико-аналитического контроля чистоты полупроводниковых соединений АпВvi и исходных компонентов / В. Г. Яковлева // Труды Московского института стали и сплавов : науч. труды / МИСиС . – М. : Металлургия. - Вып.73: Халькогениды цинка, кадмия и ртути / МИСиС, А. В. Ванюков, Г. В. Инденбаум . – М. : Металлургия, 1973 . – 22-24 .

Рассмотрены методы концентрирования микропримесей при анализе чистых кадмия, цинка, селена и теллура и некоторых их соединений (CdTe, HgTe, HgSe, CdSe, CdS).Приведены данные о чувствительности определения отдельных микропримесей в указанных материалах методами спектрального, химико-спектрального, колориметрического, флуориметрического и полярографического анализа.