Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга (аналит. описание)

Иванов, Ю. М.
Применение стадийной отгонки основы для исследования поведения примесей в Cd и Te / Ю. М. Иванов, Б. С. Красулина, А. Н. Макарова, В. Г. Яковлева, В. К. Керножицкий, Т. В. Руднева, Ю. Д. Сметанников // Труды Московского института стали и сплавов : науч. труды / МИСиС . – М. : Металлургия. - Вып.106: Соединения АпВvi. Физико-химические основы получения и свойства : Сб.статей / МИСиС . – М. : Металлургия, 1978 . – 19-22 .

С помощью предварительного концентрирования примесей путем стадийной отгонки основы с последующим спектральным анализом концентрата была выявлена номенклатура примесей, оставшихся в кадмии и теллуре после процессов глубокой очистки ректификацией и зонной плавкой. В кадмии были обнаружены примеси - Cu, Ag, Zn, Al, Ni, Mg, Mn, Pb, Sn, Fe, Ga, в теллуре - Cu, Ag, Al, Mg, Fe, Au и Ga. Содержание всех перечисленных примесей находится в пределах n*10 в -6 до n*10 в -8 % (по массе). Предложен метод определения кислорода с чувствительностью для кадмия 3*10 в-5% (по массе). При исследовании очистки кадмия от ряда примесей показано, что коэффициенты распределения марганца и железа >1, а хрома и кислорода <1.