Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Методика определения параметров тонких пленок и эпитаксиальных слоев

Методика определения параметров тонких пленок и эпитаксиальных слоев

Доступно
 10 из 10
Книга
Автор:
Методика определения параметров тонких пленок и эпитаксиальных слоев : лаб. практикум для студ. напр. 550700, 551600, 553100 и спец. 200110, 200200
Издательство: Учеба, 1999 г.
ISBN отсутствует

полный текст

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
N1520 II-9 М-545

Методика определения параметров тонких пленок и эпитаксиальных слоев : лаб. практикум для студ. напр. 550700, 551600, 553100 и спец. 200110, 200200 / Г. Д. Кузнецов, В. А. Никоненко, Ю. Г. Полистанский, В. П. Сушков ; ред. Г. Д. Кузнецов . – М. : Учеба, 1999 . – 69 с. : ил. + Библиогр. в конце разд. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=90756 . - Пособие МИСиС .

539.216(075.8)

Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Физика : магнетизм : ферримагнетизм

115223м 01:Книгохранение
115230м 01:Книгохранение
115231м 01:Книгохранение
115232м 01:Книгохранение
115233м 01:Книгохранение
115234м 01:Книгохранение
115235м 01:Книгохранение
115236м 01:Книгохранение
115237м 01:Книгохранение
115238м 01:Книгохранение




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167