Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Батавин, В. В. - Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур

Батавин, В. В. - Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур

Доступно
 1 из 1
Книга
Автор: Батавин, В. В.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Издательство: Радио и связь, 1985 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
VIII-5 Б-28

Батавин, В. В.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович . – М. : Радио и связь, 1985 . – 264 с. : ил. + Библиогр.: с. 251-262 : руб. 1.10 .

621.315.5


572548 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)

Контроль состава, содержания примесей и загрязнений в полупроводниковых материалах и структурах
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Контроль структурного совершенства полупроводниковых материалов
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Измерение параметров структур металл-диэлектрик-полупроводник и диэлектрик-полупроводник
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Измерение времени жизни, диффузионной длины и скорости поверхностной рекомбинации неосновных носи...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Измерение толщины эпитаксиальных слоев и геометрических параметров полупроводниковых пластин и ст...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Измерение концентрации и подвижности носителей заряда
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Измерение удельного сопротивления полупроводниковых материалов и структур
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167