Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Павлов, Л. П. - Методы измерения параметров полупроводниковых материалов

Павлов, Л. П. - Методы измерения параметров полупроводниковых материалов

Доступно
 6 из 6
Книга
Автор: Павлов, Л. П.
Методы измерения параметров полупроводниковых материалов : учеб. пособие для вузов
Издательство: Высш. шк., 1987 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
VIII-5 621.38 П-121

Павлов, Л. П.
Методы измерения параметров полупроводниковых материалов : учеб. пособие для вузов / Л. П. Павлов . – 2-е изд., перераб. и доп . – СПб. : Высш. шк., 1987 . – 239 с. + Библиогр.: с. 237. : руб. 0.85 .

621.315.592.08


599024 01:Книгохранение
599023 01:Книгохранение
599022 01:Книгохранение
597568 01:Книгохранение
637468 01:Книгохранение
604634 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)

Оптические методы измерения параметров полупроводников
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Вольт-фарадные методы измерения параметров полупроводников
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Определение параметров полупроводников путем измерения фотопроводимости, фототока, фото-ЭДС, фото...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Измерение параметров неравновесных носителей заряда
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Определение параметров полупроводников путем измерения ЭДС Холла и магнитосопротивления
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Измерение удельного сопротивления полупроводников
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167