Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Долгинцев, Д. М. - Использование дифракции отраженных электронов для нанофазного анализа тонких пленок Pb(Zr,Ti)O3
Долгинцев, Д. М. - Использование дифракции отраженных электронов для нанофазного анализа тонких пленок Pb(Zr,Ti)O3
Статья
Автор: Долгинцев, Д. М.
Наноматериалы и наноструктуры: Использование дифракции отраженных электронов для нанофазного анализа тонких пленок Pb(Zr,Ti)O3
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Долгинцев, Д. М.
Наноматериалы и наноструктуры: Использование дифракции отраженных электронов для нанофазного анализа тонких пленок Pb(Zr,Ti)O3
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Долгинцев, Д. М.
Использование дифракции отраженных электронов для нанофазного анализа тонких пленок Pb(Zr,Ti)O3 / Д. М. Долгинцев, А. Г. Канарейкин, В. П. Пронин // Наноматериалы и наноструктуры . – 2015 . – Т. 6, N 4 . – С. 21-28 .
Долгинцев, Д. М.
Использование дифракции отраженных электронов для нанофазного анализа тонких пленок Pb(Zr,Ti)O3 / Д. М. Долгинцев, А. Г. Канарейкин, В. П. Пронин // Наноматериалы и наноструктуры . – 2015 . – Т. 6, N 4 . – С. 21-28 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1