Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Нарцев, В. М. - Рентгенофлуоресцентный анализ состава тонких покрытий с использованием метода фундаментальных пар...
Нарцев, В. М. - Рентгенофлуоресцентный анализ состава тонких покрытий с использованием метода фундаментальных пар...
Статья
Автор: Нарцев, В. М.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Рентгенофлуоресцентный анализ состава тонких покрытий с использованием метода фундаментальных пар...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Нарцев, В. М.
Заводская лаборатория: Диагностика материалов: Рентгенофлуоресцентный анализ состава тонких покрытий с использованием метода фундаментальных пар...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Нарцев, В. М.
Рентгенофлуоресцентный анализ состава тонких покрытий с использованием метода фундаментальных параметров / В. М. Нарцев, А. Б. Аткарская // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2016 . – N 3 . – С. 29-35 .
Нарцев, В. М.
Рентгенофлуоресцентный анализ состава тонких покрытий с использованием метода фундаментальных параметров / В. М. Нарцев, А. Б. Аткарская // Заводская лаборатория: Диагностика материалов . – 2016 . – N 3 . – С. 29-35 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 3
2016 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заводская лаборатория: Диагностика материалов N 3
2016 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный