Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Никулин, С. А.
Возможности методов сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии для сравнительного анализа микроструктуры нанокомпозиционных высокопрочных проводников in-situ на основе медной матрицы и ОЦК-металлов / С. А. Никулин, В. И. Панцырный, А. Б. Рожнов, С. О. Рогачев, Н. Е. Хлебова, Т. А. Нечайкина, В. М. Хаткевич // Металловедение и термическая обработка металлов . – 2016 . – N 4 . – С. 23-27 .