Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства
17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства
Книга (аналит. описание)
Автор:
Космическая электроника. В 2-х кн. Кн. 2: 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Космическая электроника. В 2-х кн. Кн. 2: 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства // Космическая электроника. В 2-х кн. Кн. 2 / А. И. Белоус, В. А. Солодуха, С. В. Шведов . – М. : Техносфера, 2015 . – С. 992-1026 . – (Мир электроники) .
17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства // Космическая электроника. В 2-х кн. Кн. 2 / А. И. Белоус, В. А. Солодуха, С. В. Шведов . – М. : Техносфера, 2015 . – С. 992-1026 . – (Мир электроники) .
Привязано к:
Доступно
2 из 2
Книга
Белоус, А. И.
Космическая электроника. В 2-х кн. Кн. 2
ISBN 978-5-94836-402-5
Библиотека МИСИС : Научный
Белоус, А. И.
Космическая электроника. В 2-х кн. Кн. 2
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2015 г.ISBN 978-5-94836-402-5
Библиотека МИСИС : Научный