Электронный каталог -Бублик, В. Т. - Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880)- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880)

Бублик, В. Т. - Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880)

Нет экз.

Электронный ресурс
Автор: Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880) : учеб. пособие
Издательство: [МИСиС], 2016 г.
ISBN 978-5-87623-982-2

полный текст

На полку

Электронный ресурс

Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880) : учеб. пособие / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова ; МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников и диэлектриков . – М. : [МИСиС], 2016 . – 84с. : рис. + Библиогр.: с. 82-83 . – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=987715489 . - Пособие МИСиС . - ISBN 978-5-87623-982-2 .

621.315.5:548.735(075.8)

Грифы = 2: УМО и НМС
Дисциплины = Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть : Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур
Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Кристаллография : рентгенодифракционный анализ
УГС = 22.00.00 Технологии материалов