Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микро...
Бублик, В. Т. - Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микро...
Доступно
6 из 6
6 из 6
Книга
Автор: Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микро... : лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643
Издательство: Учеба, 1986 г.
ISBN отсутствует
Автор: Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микро... : лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643
Издательство: Учеба, 1986 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
VIII-5 Б-90
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микроскопия : лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643 / В. Т. Бублик, Г. М. Зимичева . – М. : Учеба, 1986 . – 96с. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=99535 . - Пособие МИСиС : руб. 0.12 .
621.315.592
588780 01:Книгохранение
588781 01:Книгохранение
588782 01:Книгохранение
588783 01:Книгохранение
588784 01:Книгохранение
588785 01:Книгохранение
VIII-5 Б-90
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микроскопия : лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643 / В. Т. Бублик, Г. М. Зимичева . – М. : Учеба, 1986 . – 96с. – URL: http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=99535 . - Пособие МИСиС : руб. 0.12 .
621.315.592
588780 01:Книгохранение
588781 01:Книгохранение
588782 01:Книгохранение
588783 01:Книгохранение
588784 01:Книгохранение
588785 01:Книгохранение