Электронный каталог библиотеки МИСИС

eng|rus
Библиотека МИСИС
 Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru  
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки
  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин
  • Информация о фонде
  • Журналы
  • Электронная библиотека МИСИС
  • Другие электронные учебники
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Векслер, М. И.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Деградация туннельных МОП структур при высокой плотности тока
Статья
Грехов, И. В.
Деградация туннельных МОП структур при высокой плотности тока
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Эффект усиления фототока в МОП-структурах Au/SiO2/n-6H-SiC с туннельно-тонким диэлектриком / Физи...
Статья
Грехов, И. В.
Эффект усиления фототока в МОП-структурах Au/SiO2/n-6H-SiC с туннельно-тонким диэлектриком / Физи...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Роль эффекта ударной ионизации в формировании обратных вольт-амперных характеристик туннельных ст...
Статья
Векслер, М. И.
Роль эффекта ударной ионизации в формировании обратных вольт-амперных характеристик туннельных ст...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Туннелирование электронов через двойной барьер в структуре металл-окисел-кремний при обратном сме...
Статья
Карева, Г. Г.
Туннелирование электронов через двойной барьер в структуре металл-окисел-кремний при обратном сме...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Механизм формирования стационарных обратных вольт-амперных характеристик МДП структур с переносом...
Статья
Грехов, И. В.
Механизм формирования стационарных обратных вольт-амперных характеристик МДП структур с переносом...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Статические характеристики кремниевого оже-транзистора с туннельным МОП эмиттером и индуцированно...
Статья
Грехов, И. В.
Статические характеристики кремниевого оже-транзистора с туннельным МОП эмиттером и индуцированно...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Электрофизические характеристики структур Au/CaF2/n-Si<111> с супертонкими (менее 20нм) слоями Ca...
Статья
Альварес, Х. К.
Электрофизические характеристики структур Au/CaF2/n-Si<111> с супертонкими (менее 20нм) слоями Ca...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Теннельная МДП структура при высокой плотности тока (режим обратного смещения)
Статья
Векслер, М. И.
Теннельная МДП структура при высокой плотности тока (режим обратного смещения)
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Подавление эффекта оттеснения эмиттерного тока в оже-транзисторах
Статья
Белов, С. В.
Подавление эффекта оттеснения эмиттерного тока в оже-транзисторах
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Мягкий пробой как причина спада тока в туннельной МОП структуре / Физика полупроводниковых приборов
Статья
Шулекин, А. Ф.
Мягкий пробой как причина спада тока в туннельной МОП структуре / Физика полупроводниковых приборов
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Излучательная рекомбинация в кремниевой туннельной МОП структуре / Полупроводниковые структуры, г...
Статья
Asli, N.
Излучательная рекомбинация в кремниевой туннельной МОП структуре / Полупроводниковые структуры, г...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

О влиянии поперечного квантования на электрические характеристики туннельной МОП структуры субмик...
Статья
Векслер, М. И.
О влиянии поперечного квантования на электрические характеристики туннельной МОП структуры субмик...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Влияние неоднородности толщины диэлектрика на переключение туннельной МОП структуры Al/SiO2/n-Si ...
Статья
Тягинов, С. Э.
Влияние неоднородности толщины диэлектрика на переключение туннельной МОП структуры Al/SiO2/n-Si ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Транзистор с туннельным МОП эмиттером как инструмент для определения эффективной массы дырки в то...
Статья
Векслер, М. И.
Транзистор с туннельным МОП эмиттером как инструмент для определения эффективной массы дырки в то...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Вольт-амперные характеристики туннельных МОП диодов Al/SiO2/p-Si с пространственно неоднородной т...
Статья
Векслер, М. И.
Вольт-амперные характеристики туннельных МОП диодов Al/SiO2/p-Si с пространственно неоднородной т...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Определение характерного пространственного масштаба флуктуаций толщины туннельно-тонкого диэлект...
Статья
Тягинов, С. Э.
Определение характерного пространственного масштаба флуктуаций толщины туннельно-тонкого диэлект...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Статические вольт-амперные характеристики туннельных МДП структур Au/CaF2/n-Si(111)
Статья
Сутурин, С. М.
Статические вольт-амперные характеристики туннельных МДП структур Au/CaF2/n-Si(111)
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Общая процедура расчета электрических характеристик туннельных МДП-структур
Статья
Векслер, М. И.
Общая процедура расчета электрических характеристик туннельных МДП-структур
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Общая процедура расчета электрических характеристик туннельных МДП-структур
Статья
Векслер, М. И.
Общая процедура расчета электрических характеристик туннельных МДП-структур
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Электрофизические явления в структуре металл/наноокисел/p-кремний при трансформации ее в резона...
Статья
Карева, Г. Г.
Электрофизические явления в структуре металл/наноокисел/p-кремний при трансформации ее в резона...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2023  v.20.125