Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Филатов, П. А. - Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...
Филатов, П. А. - Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Автореферат
Автор: Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр... : автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Издательство: [МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Автор: Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеностр... : автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Издательство: [МИСиС], 2008 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Автореферат
Ф-517а
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеноструктурными методами : автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников" / П. А. Филатов ; науч. рук. В. Т. Бублик . – М. : [МИСиС], 2008 . – 22с. : ил. + Библиогр.: с. 20-22 .
537.311.322:548.4:548.73(043.3)
328071 19:Фонд дис.МИСИС
Ф-517а
Филатов, П. А.
Особенности микродефектов в нестехиометрических монокристаллах GaAs и GaP, выявляемые рентгеноструктурными методами : автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников" / П. А. Филатов ; науч. рук. В. Т. Бублик . – М. : [МИСиС], 2008 . – 22с. : ил. + Библиогр.: с. 20-22 .
537.311.322:548.4:548.73(043.3)
328071 19:Фонд дис.МИСИС