| Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения | Количество обучающихся, изучающих дисциплину | | Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами |
| Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) | Количество экз./чел. |
|
| Методы исследования физических свойств полупроводниковых структур | 18 |
| 1. Горелик, С. С. Материаловедение полупроводников и диэлектриков : учебник для студ. вузов по напр. 'Материаловедение и технология новых материалов', 'Материаловедение, технологии материалов и покрытий' / С. С. Горелик. — 2-е изд., перераб. и доп. — М. : Изд-во МИСиС, 2003. — 482 с. : ил. + Библиогр.: с. 472-475. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=336223. — ISBN 5-87623-018-7 : руб. 330.00. | 1.00 |
| 2. Глазов, В. М. Методы исследования свойств жидких металлов и полупроводников / В. М. Глазов. — М. : Металлургия, 1989. — 384 с. : ил. + Библиогр.: с. 357-381. - Предм. указ.: с. 382-384. — ISBN 5-229-00059-7 : руб. 5.70. | 0.58 |
| 3. Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для студ. напр. 'Прикладные математика и физика': пер. с англ. / Д. Брандон. — М. : Техносфера, 2004. — 377 с. : ил. + Библиогр. в конце глав. — (Мир материалов и технологий) . — ISBN 5-948360-18-0 : руб. 290.00. | 1.00 |
|
