Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Knigob Matieres
Печать
/Упрощенная форма/Экспорт (Excel)
Дисциплина: Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур
| № | Дисциплина | Кафедра | Цикл | Студ. осен. | Студ. весн. | Курс | Сем. | ||||||
| 1 | Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур | Кафедра Материаловедения полупроводников и диэлектриков | Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть | 0 | 0 | 5 | 9 | ||||||
| № | Учебная литература | Гриф | Год | Экз. | Осенний сем. | Весенний сем. | ∑ КО | ||||||
| Дисц. | Студ. | КО | Дисц. | Студ. | КО | ||||||||
| 1 | Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация : учеб. пособие / ; В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова, А. М. Мильвидский; МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников и диэлектриков. — М. : Изд-во МИСиС, 2013. — 66с. : рис. + Библиогр.: с. 64-66. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=536914. — Пособие МИСиС. — ISBN 978-5-87623-695-1. | 2: УМО и НМС | 2013 | 14 | 1 | 0 | --- | 0 | 0 | --- | --- | ||
| 2 | Бублик, В. Т. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880) : учеб. пособие / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова ; МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников и диэлектриков. — М. : [МИСиС], 2016. — 84с. : рис. + Библиогр.: с. 82-83. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=987715489. — Пособие МИСиС. — ISBN 978-5-87623-982-2. | 2: УМО и НМС | 2016 | 0 | 1 | 0 | --- | 0 | 0 | --- | --- | ||
| Итого по дисциплине : Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур | 14 | --- | --- | --- | |||||||||