Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
Доступно
3 из 3
537.86(075.8)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Доступно
3 из 3
Книга
Валянский, С. И.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2011 г.
ISBN 978-5-87623-460-5
Библиотека МИСИС : Научный
Валянский, С. И.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2011 г.
ISBN 978-5-87623-460-5
Библиотека МИСИС : Научный
Заказать 
На полку