Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
Доступно
97 из 97
621.315.5:539.26(075.8)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Доступно
97 из 97
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций
Учеба, 2006 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций
Учеба, 2006 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий