Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
148 из 148
Доступно
97 из 97
Доступно
14 из 14
Мильвидский, А. М.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Доступно
1 из 1
Диссертация
Мильвидский, А. М.
Структурно-чувствительные особенности валентной зоны при разупорядочении в кремнии: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Мильвидский, А. М.
Структурно-чувствительные особенности валентной зоны при разупорядочении в кремнии: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заказать 
На полку Доступно
1 из 1
Автореферат
Мильвидский, А. М.
Структурно-чувствительные особенности валентной зоны при разупорядочении в кремнии: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Мильвидский, А. М.
Структурно-чувствительные особенности валентной зоны при разупорядочении в кремнии: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
148 из 148
Книга
Мильвидский, А. М.
Методы исследования структур кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки: Лаб. практикум
Учеба, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Мильвидский, А. М.
Методы исследования структур кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки: Лаб. практикум
Учеба, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Доступно
97 из 97
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций
Учеба, 2006 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций
Учеба, 2006 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Доступно
14 из 14
Книга
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-695-1
Библиотека МИСиС : Научный
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-695-1
Библиотека МИСиС : Научный