Электронный каталог -Справочник авторов- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Воронова, М. И.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Статья
Дашевский, М. Я.
Свойства легированных монокристаллов кремния, выращенных в условиях микрогравитации / Материалове...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение влияния различных режимов термического отжига на образование микродефектов в монокристал...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Структурные изменения в монокристаллах InSb, облученных нейтронами / Атомная структура и методы с...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Об условиях образования микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом горизонтально...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Аномальное изменение периода решетки монокристаллов InP, облученных реакторными нейтронами / Атом...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Влияния легирования кремнием на особенности образования микродефектов вдоль слитка в монокристалл...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изменение структуры монокристаллов InSb после облучения нейтронами и отжигов / Атомная структура ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Влияние облучения реакторными нейтронами и отжигов на структуру монокристаллов InP
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бойко, В. М.
Влияние облучения реакторными нейтронами и температуры на структуру монокристаллов InP / Атомная ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бойко, В. М.
Изменения структуры монокристаллов InSb после облучения нейтронами и термообработок / Атомная стр...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Филатов, П. А.
Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кр...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si,...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Филатов, П. А.
Исследование микродефектов в монокристаллах GaP и GaP(Zn), выращенных методом Чохральского с жидк...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Филатов, П. А.
Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направл...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Филатов, П. А.
О политропии серы в фосфиде галлия
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Доступно
14 из 14

Книга

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-695-1
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Нет экз.

Электронный ресурс
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880): учеб. пособие
[МИСиС], 2016 г.
ISBN 978-5-87623-982-2

полный текст

На полку

Статья
Соколов, Е. Г.
Исследование структуры и твердости сплавов системы Sn-Cu-Co, применяемых в качестве связок алмазн...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку